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光學(xué)式膜厚計 日本 ASAHI-SPECTRA朝日分光特征以前的型號使用濾光片式波長選擇方法，但新產(chǎn)品采用了我們經(jīng)過驗證的光譜儀，可以選擇任何波長。膜厚變化信號由電壓輸出變?yōu)榕c計算機兼容的數(shù)字輸出，控制機構(gòu)由手動操作變?yōu)槔糜嬎銠C指令控制。此外，由于可以通過I/F直接連接到計算機來控制膜厚計，因此不需要像其他制造商那樣使用控制器，使其成為極其緊湊的系統(tǒng)。
產(chǎn)品型號：OMD-1000廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商更新時間：2024-08-13訪 問 量：370
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| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,農(nóng)業(yè),建材,電子,綜合 | 供貨號 | 137.1702.5688 |
光學(xué)式膜厚計 日本 ASAHI-SPECTRA朝日分光
光學(xué)式膜厚計 日本 ASAHI-SPECTRA朝日分光
長期供貨
以前的型號使用濾光片式波長選擇方法，但新產(chǎn)品采用了我們經(jīng)過驗證的光譜儀，可以選擇任何波長。
膜厚變化信號由電壓輸出變?yōu)榕c計算機兼容的數(shù)字輸出，控制機構(gòu)由手動操作變?yōu)槔糜嬎銠C指令控制。此外，由于可以通過I/F直接連接到計算機來控制膜厚計，因此不需要像其他制造商那樣使用控制器，使其成為極其緊湊的系統(tǒng)。
緊湊型設(shè)計，內(nèi)置光譜儀
提高抗噪性，實現(xiàn)高度可靠的膜厚監(jiān)測（靜電放電試驗?zāi)蛪?plusmn;5kV）
可通過PC命令自動控制
通過將控制器集成到接收器主體中，實現(xiàn)了高性價比。
| 模型 | OMD-1000 |
| 光譜儀類型 | 車爾尼·特納型單單色 |
| 波長范圍 | 保證范圍：380-900nm 可操作范圍：350-1100nm |
| 波長分解能 | 狹縫 0.5mm: 4.2nm [546nm] 狹縫 1.0mm: 8.3nm [546nm] |
| 波長精度 | ±1.0納米 |
| 最小波長饋電 | 0.1納米 |
| 外部控制 | RS232接口 |
| 外部輸出端子 | DC0~2V（滿量程） |
| 采樣間隔 | 100ms以上 |
| 靜電放電測試耐壓 | ±5kV（實際8kV） |
| 光源 | 12V100W鹵素?zé)?/span> |
| 光量安定性 | ±0.1%/h 以下 |
| 輸入電壓 | 交流100V 50/60Hz |
| 允許輸入電壓 | 交流85～132V |
| 皮相電力 | 340VA以下 |
| 使用環(huán)境 | 溫度 10～35℃ 濕度 20～80％ |
產(chǎn)品分類
products category
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